DIN - Deutsche nationale Normen

Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-6: Test 25f: Eye pattern and jitter.
(Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-6: Prüfung 25f: Augendiagramm und Jitter.)

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Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-7: Test 25g - Impedance, reflection coefficient and standing voltage wave ratio (VSWR).
(Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-7: Prüfung 25g - Impedanz, Reflexionskoeffizient und Spannungsstehwellenverhältnis.)

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Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-9: Signal integrity tests - Test 25i: Alien crosstalk.
(Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-9: Signalintegritätsprüfungen - Prüfung 25i: Externes Nebensprechen (Alien Crosstalk).)

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VDE 0687-512-26-100. Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 26-100: Measurement setup, test and reference arrangements and measurements for connectors according to IEC 60603-7 - Tests 26a to 26g.
(VDE 0687-512-26-100. Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 26-100: Messaufbau, Prüf- und Referenzanordnung und Messverfahren für Steckverbinder nach IEC 60603-7 - Prüfungen 26a bis 26g.)

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VDE 0687-512-27-100. Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 27-100: Signal integrity tests up to 500 MHz on IEC 60603-7 series connectors - Tests 27a to 27g.
(VDE 0687-512-27-100. Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 27-100: Signalintegritätsprüfungen bis 500 MHz an Steckverbindern der Reihe IEC 60603-7 - Prüfungen 27a bis 27g.)

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VDE 0687-512-27-200. Connectors for electrical and electronic equipment - Tests and measurements - Part 27-200: Additional specifications for signal integrity tests up to 2 000 MHz on IEC 60603-7 series connectors - Tests 27a to 27g.
(VDE 0687-512-27-200. Steckverbinder für elektrische und elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 27-200: Zusätzliche Festlegungen für Signalintegritätsprüfungen bis 2 000 MHz bei Steckverbindern der Reihe IEC 60603-7 - Prüfungen 27a bis 27g.)

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VDE 0687-512-28-100. Connectors for electrical and electronic equipment - Tests and measurements - Part 28-100: Signal integrity tests up to 2000 MHz - Tests 28a to 28g.
(VDE 0687-512-28-100. Steckverbinder für elektrische und elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 28-100: Signalintegritätsprüfungen bis 2000 MHz - Prüfungen 28a bis 28g.)

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VDE 0687-512-29-100. Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 29-100: Signal integrity tests up to 500 MHz on M12 style connectors - Tests 29a to 29g.
(VDE 0687-512-29-100. Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 29-100: Signalintegritätsprüfungen bis 500 MHz an Steckverbindern M12 - Prüfungen 29a bis 29g.)

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Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 3-1: Insulation tests; Test 3a: Insulation resistance.
(Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 3-1: Prüfungen der Isolation; Prüfung 3a: Isolationswiderstand.)

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Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 4-1: Voltage stress tests - Test 4a: Voltage proof.
(Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 4-1: Prüfungen mit Spannungsbeanspruchung - Prüfung 4a: Spannungsfestigkeit.)

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