DIN - Deutsche nationale Normen

Expression of performance of electrochemical analyzers - Part 5: Oxidation-reduction potential or redox potential.
(Angabe des Betriebsverhaltens von elektrochemischen Analysatoren - Teil 5: Oxidations-Reduktions-Spannung oder Redoxspannung.)

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Semiconductor devices; sectional specification for semiconductor devices; identical with IEC 60747-11:1985.
(Halbleiterbauelemente; Rahmenspezifikation für Einzel-Halbleiterbauelemente.)

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Semiconductor devices - Part 15: Discrete devices - Isolated power semiconductor devices.
(Halbleiterbauelemente - Teil 15: Einzel-Halbleiterbauelemente - Isolierte Leistungshalbleiter.)

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Semiconductor devices - Part 16-1: Microwave integrated circuits - Amplifiers.
(Halbleiterbauelemente - Teil 16-1: Integrierte Mikrowellen-Verstärker.)

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Semiconductor devices - Part 16-10: Technology Approval Schedule (TAS) for monolithic microwave integrated circuits.
(Halbleiterbauelemente - Teil 16-10: Prüfplan für die Technikanerkennung (Technology Approval Schedule - TAS) für monolithische integrierte Mikrowellenschaltkreise.)

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Semiconductor devices - Part 16-3: Microwave integrated circuits - Frequency converters.
(Halbleiterbauelemente - Teil 16-3: Integrierte Schaltungen zur Frequenzumsetzung von Mikrowellen.)

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Semiconductor devices - Part 16-4: Microwave integrated circuits - Switches.
(Halbleiterbauelemente - Teil 16-4: Integrierte Mikrowellenschaltkreise - Schalter.)

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Semiconductor devices - Part 16-5: Microwave integrated circuits - Oscillators.
(Halbleiterbauelemente - Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltkreise - Oszillatoren.)

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Semiconductor devices - Part 16-6: Microwave integrated circuits - Frequency multipliers.
(Halbleiterbauelemente - Teil 16-6: Integrierte Mikroschaltungen - Frequenzvervielfacher.)

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Semiconductor devices - Part 16-7: Microwave integrated circuits - Attenuators.
(Halbleiterbauelemente - Teil 16-7: Integrierte Mikrowellenschaltkreise - Dämpfungsglieder.)

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