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Semiconductor devices - Part 16-8: Microwave integrated circuits - Limiters.
(Halbleiterbauelemente - Teil 16-8: Integrierte Mikrowellenschaltkreise - Begrenzer.)
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Semiconductor devices - Part 16-9: Microwave integrated circuits - Phase shifters.
(Halbleiterbauelemente - Teil 16-9: Integrierte Mikrowellenschaltungen - Phasenschieber.)
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VDE 0884-17. Semiconductor devices - Part 17: Magnetic and capacitive coupler for basic and reinforced insulation.
(VDE 0884-17. Halbleiterbauelemente - Teil 17: Magnetische und kapazitive Koppler für Basisisolierung und verstärkte Isolierung.)
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Semiconductor devices - Discrete devices and integrated circuits - Part 2: Rectifier diodes.
(Halbleiterbauelemente - Einzel-Halbleiterbauelemente und Integrierte Schaltungen - Teil 2: Gleichrichtdioden.)
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VDE 0884-5. Semiconductor devices - Part 5-5: Optoelectronic devices - Photocouplers.
(VDE 0884-5. Halbleiterbauelemente - Teil 5-5: Optoelektronische Bauelemente - Optokoppler.)
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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General.
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 1: Allgemeines.)
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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock - Device and subassembly.
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 10: Mechanischer Schock - Bauelemente und Unterbaugruppe.)
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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method.
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 11: Rascher Temperaturwechsel; Zweibäderverfahren.)
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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency.
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 12: Schwingen, variable Frequenz.)
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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere.
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 13: Salzatmosphäre.)
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