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Semiconductor devices - Metallization stress void test.
(Halbleiterbauelemente - Prüfverfahren zur Metallisierungs-Stressmigration.)
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Control technology - Rules for the designation of measuring instruments.
(Leittechnik - Regeln für die Benennung von Messgeräten.)
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VDE 0212-354. Concentric lay stranded overhead electrical conductors containing one or more gap(s).
(VDE 0212-354. Leiter für Freileitungen aus konzentrisch verseilten runden Drähten mit einem oder mehreren Zwischenraum/räumen.)
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Electronics assembly technology - Electronic modules.
(Montageverfahren für elektronische Baugruppen - Elektronikmodule.)
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VDE 0664-40. Type F and type B residual current operated circuit-breakers with and without integral overcurrent protection for household and similar uses.
(VDE 0664-40. Fehlerstrom-/Differenzstrom-Schutzschalter Typ F und Typ B mit und ohne eingebautem Überstromschutz für Hausinstallationen und für ähnliche Anwendungen.)
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VDE 0810-24. Representation of process control engineering - Requests in P&I diagrams and data exchange between P&ID tools and PCE-CAE tools.
(VDE 0810-24. Darstellung von Aufgaben der Prozessleittechnik - Fließbilder und Datenaustausch zwischen EDV-Werkzeugen zur Fließbilderstellung und CAE-Systemen.)
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Electric power enginering - Modal components in three-phase a.c. systems - Quantities and transformations.
(Elektrische Energietechnik - Modale Komponenten in Drehstromsystemen - Größen und Transformationen.)
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Reliability growth - Stress testing for early failures in unique complex systems.
(Zuverlässigkeitswachstum - Beanspruchungungsprüfung auf Frühausfälle in einzelnen komplexen Systemen.)
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VDE 0042-2. Environmentally conscious design (ECD) - Principles, requirements and guidance.
(VDE 0042-2. Umweltbewusstes Gestalten (ECD) - Grundsätze, Anforderungen und Leitfaden.)
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Reflectivity of electromagnetic wave absorbers in millimetre wave frequency - Measurement methods.
(Verfahren zur Messung des Reflexionsvermögens von Absorbern für elektromagnetische Wellen im Millimeterwellen-Frequenzbereich.)
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