DIN - Deutsche nationale Normen

Electric power enginering - Modal components in three-phase a.c. systems - Quantities and transformations.
(Elektrische Energietechnik - Modale Komponenten in Drehstromsystemen - Größen und Transformationen.)

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Reliability growth - Stress testing for early failures in unique complex systems.
(Zuverlässigkeitswachstum - Beanspruchungungsprüfung auf Frühausfälle in einzelnen komplexen Systemen.)

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VDE 0042-2. Environmentally conscious design (ECD) - Principles, requirements and guidance.
(VDE 0042-2. Umweltbewusstes Gestalten (ECD) - Grundsätze, Anforderungen und Leitfaden.)

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Reflectivity of electromagnetic wave absorbers in millimetre wave frequency - Measurement methods.
(Verfahren zur Messung des Reflexionsvermögens von Absorbern für elektromagnetische Wellen im Millimeterwellen-Frequenzbereich.)

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VDE 0847-33-1. EMC IC modelling - Part 1: General modelling framework.
(VDE 0847-33-1. EMV-IC-Modellierung - Teil 1: Allgemeine Modellierungsstruktur.)

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VDE 0847-33-2. EMC IC modelling - Part 2: Models of integrated circuits for EMI behavioural simulation - Conducted emissions modelling (ICEM-CE).
(VDE 0847-33-2. EMV-IC-Modellierung - Teil 2: Modelle integrierter Schaltungen für die Simulation des Verhaltens bei elektromagnetischer Beeinflussung - Modellierung leitungsgeführter Aussendungen (ICEM-CE).)

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VDE 0847-33-3. EMC IC modelling - Part 3: Models of Integrated Circuits for EMI behavioural simulation - Radiated emissions modelling (ICEM-RE).
(VDE 0847-33-3. EMV-IC-Modellierung - Teil 3: Modelle integrierter Schaltungen für die Simulation des Verhaltens bei elektromagnetischer Beeinflussung - Modellierung von abgestrahlten Aussendungen (ICEM-RE).)

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VDE 0847-33-4. EMC IC modelling - Part 4: Models of integrated circuits for RF immunity behavioural simulation - Conducted immunity modelling (ICIM-CI).
(VDE 0847-33-4. EMV-IC-Modellierung - Teil 4: Modelle integrierter Schaltungen für die Simulation des Verhaltens der HF-Störfestigkeit - Modellierung der Störfestigkeit gegen leitungsgeführte Störungen (ICIM-CI).)

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VDE 0847-33-6. EMC IC modelling - Part 6: Models of integrated circuits for pulse immunity behavioural simulation - Conducted pulse immunity modelling (ICIM-CPI).
(VDE 0847-33-6. EMV-IC-Modellierung - Teil 6: Modelle integrierter Schaltungen für die Simulation des Verhaltens bei Störfestigkeit gegen Impulse - Modellierung der Störfestigkeit gegen leitungsgeführte Impulse (ICIM-CPI).)

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VDE 0884-135-1. Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 1: General.
(VDE 0884-135-1. Elektronische Bauteile - Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente - Teil 1: Allgemeines.)

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