DIN - Deutsche nationale Normen

VDE 0721-54. Electrical resistance trace heating systems for industrial and commercial applications - Part 2: Application guide for system design, installation and maintenance.
(VDE 0721-54. Elektrische Widerstands-Begleitheizungen für industrielle und gewerbliche Zwecke - Teil 2: Anwendungsleitfaden für Systemauslegung, Installation und Wartung.)

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VDE 0721-54. Electrical resistance trace heating systems for industrial and commercial applications - Part 2: Application guide for system design, installation and maintenance.
(VDE 0721-54. Elektrische Widerstands-Begleitheizungen für industrielle und gewerbliche Zwecke - Teil 2: Anwendungsleitfaden für Systemauslegung, Installation und Wartung.)

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VDE 0491-9-5. Nuclear power plants - Instrumentation and control important to safety - Resistance temperature detectors.
(VDE 0491-9-5. Kernkraftwerke - Leittechnik mit sicherheitstechnischer Bedeutung - Widerstands-Temperaturfühler.)

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Specification for dedicated LPG appliances - Room sealed LPG space heating equipment for installation in vehicles and boats.
(Festlegungen für flüssiggasbetriebene Geräte - Raumluftunabhängige Flüssiggas-Raumheizgeräte zum Einbau in Fahrzeugen und Booten.)

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VDE 0493-3-4. Radiation protection instrumentation - Alarming personal radiation devices (PRDs) for the detection of illicit trafficking of radioactive material.
(VDE 0493-3-4. Strahlenschutz-Messgeräte - Alarmgebende persönliche Strahlungsmessgeräte zum Aufspüren von unerlaubt transportiertem radioaktivem Material.)

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Obsolescence management.
(Obsoleszenzmanagement.)

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High density recording format on CD-R/RW disc system - HD-BURN format.
(Aufzeichnungsformat hoher Dichte für CD-R/RW-Systeme - HD-BURN-Format.)

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Semiconductor devices - Constant current electromigration test.
(Halbleiterbauelemente - Konstantstrom-Prüfverfahren zur Elektromigration.)

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Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors.
(Halbleiterbauelemente - Hot-Carrier-Prüfverfahren für MOS-Transistoren.)

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Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs).
(Halbleiterbauelemente - Prüfverfahren auf mobile Ionen für Feldeffekttransistoren mit Metall-Oxid-Halbleiter (MOSFET).)

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