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IEC - Internationale elektrotechnische Organisation
Seite 1036
IEC/TR 62878-2-8-ed.1.0 (07.07.2021)
Device embedding assembly technology - Part 2-8: Guidelines - Warpage control of active device embedded substrate
Verfügbare Sprachen: Englisch
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ab 103.10 EUR weitere informationen
IEC/TR 62878-2-9-ed.1.0 (27.04.2022)
Device embedding assembly technology - Part 2-9: Guidelines - Concept of JISSO level in the electronic assembly technology industries
Verfügbare Sprachen: Englisch
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IEC 62880-1-ed.1.0 (23.08.2017)
Semiconductor devices - Stress migration test standard - Part 1: Copper stress migration test standard
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ab 206.20 EUR weitere informationen
IEC 62881-ed.1.0 (10.10.2018)
Cause and effect matrix
(Matrice des causes et effets)
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IEC 62881-ed.1.0/Cor.1 (23.04.2019) Correction
Corrigendum 1 - Cause and effect matrix
(Corrigendum 1 - Matrice des causes et effets)
Verfügbare Sprachen: Englisch und Französisch
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ab 1.30 EUR weitere informationen
IEC/TS 62882-ed.1.0 (18.09.2020)
Hydraulic machines - Francis turbine pressure fluctuation transposition
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IEC 62884-1-ed.1.0 (08.06.2017)
Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 1: Basic methods for the measurement
(Techniques de mesure des oscillateurs piezoelectriques, dielectriques et electrostatiques - Partie 1: Methodes fondamentales pour le mesurage)
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ab 489.70 EUR weitere informationen
IEC 62884-2-ed.1.0 (30.08.2017)
Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 2: Phase jitter measurement method
(Techniques de mesure des oscillateurs piezoelectriques, dielectriques et electrostatiques - Partie 2 : Methode de mesure de la gigue de phase)
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IEC 62884-3-ed.1.0 (22.03.2018)
Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 3: Frequency aging test methods
(Techniques de mesure des oscillateurs piezoelectriques, dielectriques et electrostatiques - Partie 3: Methode d’essai du vieillissement en frequence)
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IEC 62884-4-ed.1.0 (06.05.2019)
Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 4 : Short-term frequency stability test methods
(Techniques de mesure des oscillateurs piezoelectriques, dielectriques et electrostatiques - Partie 4: Methodes d´essai de stabilite a court-terme de la frequence)
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