IEC - Internationale elektrotechnische Organisation

Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 3: Test method for defects using photoluminescence
(Dispositifs a semiconducteurs - Criteres de reconnaissance non destructifs des defauts au sein d’une plaquette homoepitaxiale de carbure de silicium pour des dispositifs d’alimentation - Partie 3 : Methode d’essai pour les defauts a l’aide de la photoluminescence)

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Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 4: Procedure for identifying and evaluating defects using a combined method of optical inspection and photoluminescence

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Industrial-process measurement, control and automation - Framework for functional safety and security

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Ultrasonics - Field characterization - Infrared imaging techniques for determining temperature elevation in tissue-mimicking material and at the radiation surface of a transducer in still air

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Power supplying scheme for wearable system and equipment

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Photonic integrated circuits - Part 1: Introduction and roadmap for standardization

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Dedicated radionuclide imaging devices - Characteristics and test conditions - Part 1: Cardiac SPECT
(Dispositifs d´imagerie par radionucleides dedies - Caracteristiques et conditions d´essai - Partie 1: SPECT pour scintigraphie cardiaque)

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Safety of machinery - Security aspects related to functional safety of safety-related control systems

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Superconducting AC power cables and their accessories for rated voltages from 6 kV to 500 kV - Test methods and requirements

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Railway applications - Rolling stock - Electrical equipment in trolley buses - Safety requirements and current collection systems
(Applications ferroviaires - Materiel roulant - Equipements electriques des trolleybus - Exigences de securite et systemes de captage de courant)

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