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IEC - Internationale elektrotechnische Organisation
Seite 1078
IEC/TS 63060-ed.1.0 (15.02.2019)
Electric energy supply networks - General aspects and methods for the maintenance of installations and equipment
Verfügbare Sprachen: Englisch
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ab 335.00 EUR weitere informationen
IEC/TR 63061-ed.1.0 (22.05.2017)
Adjusted volume calculation for refrigerating appliances
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt, CD-ROM
ab 103.10 EUR weitere informationen
IEC/TS 63064-ed.1.0 (23.01.2018)
Graphical symbols for diagrams - Guidance on design for standardization in IEC 60617
Verfügbare Sprachen: Englisch
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ab 103.10 EUR weitere informationen
IEC/TR 63065-ed.1.0 (15.09.2017)
Guidelines for operation and maintenance of line commutated converter (LCC) HVDC converter station
Verfügbare Sprachen: Englisch
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ab 380.20 EUR weitere informationen
IEC/TR 63065-ed.1.0/Amd.1 (03.06.2022) Change
Amendment 1 - Guidelines for operation and maintenance of line commutated converter (LCC) HVDC converter station
Verfügbare Sprachen: Englisch
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ab 25.80 EUR weitere informationen
IEC/TR 63065-ed.1.1+Amd.1-CSV (03.06.2022)
Guidelines for operation and maintenance of line commutated converter (LCC) HVDC converter station
Verfügbare Sprachen: Englisch
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ab 702.30 EUR weitere informationen
IEC 63066-ed.1.0 (10.07.2026)
Low-voltage docking connectors for removable energy storage units
(Connecteurs de raccordement a basse tension pour unites de stockage d´energie amovibles)
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ab 489.70 EUR weitere informationen
IEC 63067-ed.1.0 (24.06.2020)
Electrical installations for lighting and beaconing of aerodromes - Connecting devices - General requirements and tests
(Installations electriques pour l´eclairage et le balisage des aerodromes - Dispositifs de connexion - Exigences generales et essais)
Verfügbare Sprachen: Spanisch, Englisch und Französisch
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IEC 63068-1-ed.1.0 (30.01.2019)
Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 1: Classification of defects
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ab 206.20 EUR weitere informationen
IEC 63068-2-ed.1.0 (30.01.2019)
Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 2: Test method for defects using optical inspection
Verfügbare Sprachen: Englisch
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