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IEC - Internationale elektrotechnische Organisation
Seite 806
IEC 62047-47-ed.1.0 (23.08.2024)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 47: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of bending strength of microstructures
Verfügbare Sprachen: Englisch
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ab 103.70 EUR weitere informationen
IEC 62047-48-ed.1.0 (07.06.2024)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 48: Test method for determining solution concentration by optical absorption using MEMS fluidic device
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt, CD-ROM
ab 103.70 EUR weitere informationen
IEC 62047-49-ed.1.0 (25.11.2025)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 49: Temperature and humidity test methods for piezoelectric MEMS cantilevers
Verfügbare Sprachen: Englisch
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ab 25.90 EUR weitere informationen
IEC 62047-5-ed.1.0 (13.07.2011)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 5: RF MEMS switches
(Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs microelectromecaniques - Partie 5: Commutateurs MEMS-RF)
Verfügbare Sprachen: Englisch und Französisch
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ab 337.10 EUR weitere informationen
IEC 62047-5-ed.1.0/Cor.1 (08.03.2012) Correction
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 5: RF MEMS switches
(Corrigendum 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs microelectromecaniques - Partie 5: Commutateurs MEMS-RF)
Verfügbare Sprachen: Englisch und Französisch
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ab 1.30 EUR weitere informationen
IEC 62047-50-ed.1.0 (29.04.2025)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 50: MEMS capacitive microphones
Verfügbare Sprachen: Englisch
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ab 103.70 EUR weitere informationen
IEC 62047-52-ed.1.0 (04.03.2026)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 52: Biaxial tensile testing method for stretchable MEMS
Verfügbare Sprachen: Englisch
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IEC 62047-53-ed.1.0 (02.10.2025)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 53: MEMS electrothermal transfer device
Verfügbare Sprachen: Englisch
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IEC 62047-6-ed.1.0 (07.04.2009)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials
(Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs microelectromecaniques - Partie 6: Methodes d´essais de fatigue axiale des materiaux en couche mince)
Verfügbare Sprachen: Englisch und Französisch
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ab 103.70 EUR weitere informationen
IEC 62047-7-ed.1.0 (16.06.2011)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 7: MEMS BAW filter and duplexer for radio frequency control and selection
(Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs microelectromecaniques - Partie 7: Filtre et duplexeur BAW MEMS pour la commande et le choix des frequences radioelectriques)
Verfügbare Sprachen: Englisch und Französisch
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ab 272.20 EUR weitere informationen
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