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IEC - Internationale elektrotechnische Organisation
Seite 805
IEC 62047-38-ed.1.0 (23.06.2021)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 38: Test method for adhesion strength of metal powder paste in MEMS interconnection
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt, CD-ROM
ab 103.70 EUR weitere informationen
IEC 62047-4-ed.2.0 (07.01.2026)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 4: Generic specification for MEMS
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt, CD-ROM
ab 149.10 EUR weitere informationen
IEC 62047-4-ed.2.0-RLV (07.01.2026)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 4: Generic specification for MEMS
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt, CD-ROM
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IEC 62047-40-ed.1.0 (03.09.2021)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 40:Test methods of micro-electromechanical inertial shock switch threshold
Verfügbare Sprachen: Englisch
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ab 51.90 EUR weitere informationen
IEC 62047-41-ed.1.0 (15.06.2021)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 41: RF MEMS circulators and isolators
(Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs microelectromecaniques - Partie 41: Circulateurs et isolateurs a MEMS RF)
Verfügbare Sprachen: Englisch und Französisch
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IEC 62047-42-ed.1.0 (16.09.2022)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 42: Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics of piezoelectric MEMS cantilever
Verfügbare Sprachen: Englisch
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IEC 62047-43-ed.1.0 (19.03.2024)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 43: Test method of electrical characteristics after cyclic bending deformation for flexible micro-electromechanical devices
Verfügbare Sprachen: Englisch
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IEC 62047-44-ed.1.0 (22.02.2024)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 44: Test methods for dynamic performances of MEMS resonant electric-field-sensitive devices
Verfügbare Sprachen: Englisch
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IEC 62047-45-ed.1.0 (20.03.2025)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 45: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of impact resistance of nanostructures
Verfügbare Sprachen: Englisch
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IEC 62047-46-ed.1.0 (23.04.2025)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 46: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of tensile strength of nanoscale thickness membrane
Verfügbare Sprachen: Englisch
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