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IEEE - Progressive Technologie für Menschen
Seite 509
IEEE C62.35-1987 (31.01.1989) Ungültige
IEEE Standard Test Specifications for Avalanche Junction Semiconductor Surge Protective Devices
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IEEE C62.35-2010 (31.08.2010) Ungültige
IEEE Standard Test Methods for Avalanche Junction Semiconductor Surge-Protective Device Components
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IEEE C62.35-2010/Cor 1-2018 (12.12.2018) Ungültige
IEEE Standard Test Methods for Avalanche Junction Semiconductor Surge-Protective Device Components--Corrigendum 1
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IEEE C62.36-1991 (10.02.1992) Ungültige
IEEE Standard Test Methods for Surge Protectors Used in Low-Voltage Data, Communications, and Signaling Circuits
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IEEE C62.36-1994 (31.03.1995) Ungültige
IEEE Standard Test Methods for Surge Protectors Used in Low-Voltage Data, Communications, and Signaling Circuits
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IEEE C62.36-2000 (13.10.2000) Ungültige
IEEE Standard Test Methods for Surge Protectors Used in Low-Voltage Data, Communications, and Signaling Circuits
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IEEE C62.36-2014 (09.07.2014) Ungültige
IEEE Standard Test Methods for Surge Protectors Used in Low-Voltage Data, Communications, and Signaling Circuits
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IEEE C62.37-1996 (30.11.1996) Ungültige
IEEE Standard Test Specification for Thyristor Diode Surge Protective Devices
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IEEE C62.37.1-2000 (18.04.2001) Ungültige
IEEE Guide for the Application of Thyristor Surge Protective Devices
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IEEE C62.37.1-2012 (26.04.2013) Ungültige
IEEE Guide for the Application of Thyristor Surge Protective Device Components
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