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JIS - Japanische technische Standards
Seite 336
JIS C5630-30:2020 (23.03.2020)
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 30: Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics of MEMS piezoelectric thin film
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JIS C5630-6:2011 (22.08.2011)
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials
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JIS C5750-3-1:2006 (20.11.2006)
Dependability management -- Part 3-1: Application guide -- Analysis techniques for dependability -- Guide on methodology
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JIS C5750-3-2:2008 (20.03.2008)
Dependability management -- Part 3-2: Application guide -- Collection of dependability data from the field
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JIS C5750-3-3:2008 (20.03.2008)
Dependability management -- Part 3-3: Application guide -- Life cycle costing
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JIS C5750-3-4:2023 (21.08.2023)
Dependability management -- Part 3-4: Application guide -- Specification of dependability requirements
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JIS C5750-3-5:2006 (25.03.2006)
Dependability management -- Part 3-5: Application guide -- Reliability test conditions and statistical test principles
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JIS C5750-4-1:2008 (20.03.2008)
Dependability management -- Part 4-1: Application guide -- Dependability of products containing reused parts -- Requirements for functionality and test
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JIS C5750-4-3:2021 (20.08.2021)
Dependability management -- Part 4-3: Analysis techniques for system reliability -- Failure modes and effects analysis (FMEA and FMECA)
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JIS C5750-4-4:2011 (20.01.2011)
Dependability management -- Part 4-4: Analysis techniques for system reliability -- Fault Tree Analysis (FTA)
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