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JIS - Japanische technische Standards
Seite 662
JIS K0181:2021 (22.11.2021)
Surface chemical analysis -- Total reflection X-ray fluorescence analysis of water
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JIS K0182:2023 (20.04.2023)
Surface chemical analysis -- Scanning-probe microscopy -- Determination of cantilever normal spring constants
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JIS K0183:2024 (21.10.2024)
Surface chemical analysis-Scanning probe microscopy-Procedure for the determination of elastic moduli for compliant materials using atomic force microscope and the two-point JKR method
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JIS K0184:2026 (20.02.2026)
Surface chemical analysis-Handling of specimens prior to analysis
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JIS K0189:2013 (22.07.2013)
Microbeam analysis -- Electron probe microanalysis -- Determination of experimental parameters for wavelength dispersive X-ray spectroscopy
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JIS K0190:2010 (20.04.2010)
Microbeam analysis -- Electron probe microanalysis -- Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry
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JIS K0199:2023 (20.01.2023)
Guideline for alignment procedure for identical location analysis between different microscopic measuring instruments
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JIS K0200:2024 (20.05.2024)
Common format for measurement and analysis data
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JIS K0211:2013 (21.03.2013)
Technical terms for analytical chemistry (General part)
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JIS K0212:2016 (20.12.2016)
Technical terms for analytical chemistry (optical part)
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