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STN - Slowakische nationale Normen
Seite 2975
STN 358761 (01.03.1973) Ungültige
Semiconductor devices. Phototransistors - photodiodes. Measurement of photoelectric current
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STN 358762 (01.03.1973) Ungültige
Semiconductor devices. Phototransistors - photodiodes. Measurement of dark current
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STN 358763 (01.03.1973) Ungültige
Semiconductor devices. Diodes. Measurement of reverse breakdown voltage
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
STN EN 163100 (01.05.2015)
Sectional Specification: Film and hybrid integrated circuits
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
STN EN 163101 (01.05.2015)
Blank Detail Specification: Film and hybrid integrated circuits
Verfügbare Sprachen: Englisch
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STN EN 165000-1 (01.11.2000)
Film and hybrid integrated circuits. Part 1: Generic specification: Capability approval procedure
Verfügbare Sprachen: Englisch
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STN EN 165000-2 (01.11.2000)
Film and hybrid integrated circuits. Part 2: Internal visual inspection and special tests
Verfügbare Sprachen: Englisch
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STN EN 165000-3 (01.11.2000)
Film and hybrid integrated circuits. Part 3: Self-audit checklist and report for film and hybrid integrated circuit manufacturers
Verfügbare Sprachen: Englisch
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STN EN 165000-4 (01.11.2000)
Film and hybrid integrated circuits. Part 4: Customer information, product assessment level schedules and blank detail specification
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STN EN 165000-5 (01.11.2000)
Film and hybrid integrated circuits. Part 5: Procedure for qualification approval
Verfügbare Sprachen: Englisch
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