Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Seite 49
Reliability growth. Statistical tests and estimation methods
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
Spare parts provisioning
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
Electric components - Reliability - Reference conditions for failure rates and stress models for conversion
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 1: General
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 2: Deterioration mechanisms
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
Electronic components. Reliability. Reference conditions for failure rates and stress models for conversion
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
Electric components - Reliability - Reference conditions for failure rates and stress models for conversion
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
Mocninový model. Testy dobrej zhody a metódy odhadu parametrov (Norma na priame používanie ako STN).
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
Reliability engineering. Single sampling acceptance plans based on exponential distribution of time to failure
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
Reliability engineering. Single sampling attribute acceptance plans based on Weibull distribution of time to failure
Verfügbare Ausführung: Gedruckt