Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Stránka 49
Reliability growth. Statistical tests and estimation methods
Dostupné prevedenie: Tlačené
Spare parts provisioning
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Tlačené
Electric components - Reliability - Reference conditions for failure rates and stress models for conversion
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Tlačené
Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 1: General
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Tlačené
Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 2: Deterioration mechanisms
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Tlačené
Electronic components. Reliability. Reference conditions for failure rates and stress models for conversion
Dostupné prevedenie: Tlačené
Electric components - Reliability - Reference conditions for failure rates and stress models for conversion
Dostupné prevedenie: Tlačené
Mocninový model. Testy dobrej zhody a metódy odhadu parametrov (Norma na priame používanie ako STN).
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Tlačené
Reliability engineering. Single sampling acceptance plans based on exponential distribution of time to failure
Dostupné prevedenie: Tlačené
Reliability engineering. Single sampling attribute acceptance plans based on Weibull distribution of time to failure
Dostupné prevedenie: Tlačené