ASTM E1127-08 Ungültige

Detailinformationen

Bezeichnung: ASTM E1127-08

Ausgabedatum: 01.10.2008

Seiten: 5

Anmerkung: Ungültige

Land: Amerikanische technische Norm

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Erhältlich auf www.technormen.de

Annotation

Keywords:
angle lapping, angle-resolved AES, Auger electron spectroscopy, ball cratering, compositional depth profiling, cross sectioning, depth profiling, depth resolution, sputter depth profiling, sputtering, thin films, Surface analysis--spectrochemical analysis, Angle lapping and staining technique, Argon atmospheres, Auger electron spectroscopy (AES), Ball cratering, Crater edge profiling, Depth profiling, Gases, Ion sputtering, Noble gas ions, Nondestructive evaluation (NDE), Polishing properties