ASTM E1127-08(2015) img
Ungültige | Herausgegeben: 01.06.2015

ASTM E1127-08(2015) Ungültige

Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy (Withdrawn 2024)

Verfügbare Sprachen: Englisch

Verfügbare Ausführung: Sicheres Online-PDF

ab 76.70 EUR im E-Shop anzeigen

Detailinformationen

Bezeichnung: ASTM E1127-08(2015)

Ausgabedatum: 01.06.2015

Seiten: 5

Anmerkung: Ungültige

Land: Amerikanische technische Norm

Wo ist es zu kaufen?

Erhältlich auf www.technormen.de

Annotation

Keywords:
angle lapping, angle-resolved AES, Auger electron spectroscopy, ball cratering, compositional depth profiling, cross sectioning, depth profiling, depth resolution, sputter depth profiling, sputtering, thin films,, ICS Number Code 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.