Ungültige | Herausgegeben: 01.01.1995

ASTM E1161-95 Ungültige

Standard Test Method for Radiologic Examination of Semiconductors and Electronic Components

Verfügbare Sprachen: Englisch

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Detailinformationen

Bezeichnung: ASTM E1161-95

Ausgabedatum: 01.01.1995

Seiten: 3

Anmerkung: Ungültige

Land: Amerikanische technische Norm

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Annotation

Keywords:
Defects,emsemiconductors, Electrical conductors,emsemiconductors, Electronic materials/applications, Sealing glass defects, Voids, X-irradiation, radiographic testing of semiconductors and electronic components, test,, Radiographic testing, semiconductors and electronic components, test,,Order Form, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)

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