Neplatná | Vydána: 01.01.1995

ASTM E1161-95 Neplatná

Standard Test Method for Radiologic Examination of Semiconductors and Electronic Components

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF

od 1 671.40 CZK zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: ASTM E1161-95

Datum vydání: 01.01.1995

Stran: 3

Poznámka: Neplatná

Země: Americká technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz

Anotace

Keywords:
Defects,emsemiconductors, Electrical conductors,emsemiconductors, Electronic materials/applications, Sealing glass defects, Voids, X-irradiation, radiographic testing of semiconductors and electronic components, test,, Radiographic testing, semiconductors and electronic components, test,,Order Form, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)

Populární vydavatelé

celý katalog