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Ungültige | Herausgegeben: 24.04.1987
ASTM E1162-87(1996) Ungültige
Standard Practice for Reporting Sputter Depth Profile Data in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Sicheres Online-PDF
ab 1 671.40 CZK
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Detailinformationen
Bezeichnung: ASTM E1162-87(1996)
Ausgabedatum: 24.04.1987
Seiten: 3
Anmerkung: Ungültige
Land: Amerikanische technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.deAnnotation
Keywords:data analysis-spectrochemical, depth profiling, secondary ion mass spectrometry (SIMS), spectrometry-mass, sputter depth profiling data, surface analysis-spectrochemical analysis
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