Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Neplatné | Vydaná: 24.04.1987
ASTM E1162-87(1996) Neplatné
Standard Practice for Reporting Sputter Depth Profile Data in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF
od 68.60 EUR
zobraziť na eshopu
Podrobné informácie
Označenie: ASTM E1162-87(1996)
Dátum vydania: 24.04.1987
Stránok: 3
Poznámka: Neplatné
Krajina: Americká technická norma
Kde kúpiť?
Môžete zakúpiť na eshop.normservis.skAnotácia
Keywords:data analysis-spectrochemical, depth profiling, secondary ion mass spectrometry (SIMS), spectrometry-mass, sputter depth profiling data, surface analysis-spectrochemical analysis
Populárna vydavatelia
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
