Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Sicheres Online-PDF, Gedruckt
Bezeichnung: ASTM E1438-11(2019)
Ausgabedatum: 01.11.2019
Seiten: 3
Land: Amerikanische technische Norm