ASTM E1438-11(2019) img
Aktívna norma | Vydaná: 01.11.2019

ASTM E1438-11(2019)

Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF, Tlačené

od 55.80 EUR zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: ASTM E1438-11(2019)

Dátum vydania: 01.11.2019

Stránok: 3

Krajina: Americká technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk

Anotácia

Keywords:
ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.