Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Guide for Measuring Time-Dependant Total-Dose Effects in Semiconductor Devices Exposed to Pulsed Ionizing Radiation (Withdrawn 1994)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Sicheres Online-PDF
Bezeichnung: ASTM F1032-91
Seiten: 3
Anmerkung: Ungültige
Land: Amerikanische technische Norm