Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Guide for Measuring Time-Dependant Total-Dose Effects in Semiconductor Devices Exposed to Pulsed Ionizing Radiation (Withdrawn 1994)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF
Označení: ASTM F1032-91
Stran: 3
Poznámka: Neplatná
Země: Americká technická norma