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Ungültige | Herausgegeben: 10.06.2000
ASTM F1049-00 Ungültige
Standard Practice for Shallow Etch Pit Detection on Silicon Wafers
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Sicheres Online-PDF
ab 69.70 EUR
im E-Shop anzeigen
Detailinformationen
Bezeichnung: ASTM F1049-00
Ausgabedatum: 10.06.2000
Seiten: 4
Anmerkung: Ungültige
Land: Amerikanische technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.deAnnotation
Keywords:Defects-semiconductors, Etching, Haze, wafers (silicon)- shallow etch pit detection, test,, Microscopic examination-electronic materials, wafers (silicon)- shallowetch pit detection, test, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)
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