Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Neplatné | Vydaná: 10.06.2000
ASTM F1049-00 Neplatné
Standard Practice for Shallow Etch Pit Detection on Silicon Wafers
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF
od 69.70 EUR
zobraziť na eshopu
Podrobné informácie
Označenie: ASTM F1049-00
Dátum vydania: 10.06.2000
Stránok: 4
Poznámka: Neplatné
Krajina: Americká technická norma
Kde kúpiť?
Môžete zakúpiť na eshop.normservis.skAnotácia
Keywords:Defects-semiconductors, Etching, Haze, wafers (silicon)- shallow etch pit detection, test,, Microscopic examination-electronic materials, wafers (silicon)- shallowetch pit detection, test, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)
Populárna vydavatelia
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
