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Ungültige | Herausgegeben: 10.01.2002
ASTM F1152-93 Ungültige
Standard Test Method for Dimensions of Notches on Silicon Wafers
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Sicheres Online-PDF
ab 69.70 EUR
im E-Shop anzeigen
Detailinformationen
Bezeichnung: ASTM F1152-93
Ausgabedatum: 10.01.2002
Seiten: 3
Anmerkung: Ungültige
Land: Amerikanische technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.deAnnotation
Keywords:notch, notch dimension, optical comparator, silicon, wafer
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