Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Neplatné | Vydaná: 10.01.2002
ASTM F1152-93 Neplatné
Standard Test Method for Dimensions of Notches on Silicon Wafers
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF
od 69.70 EUR
zobraziť na eshopu
Podrobné informácie
Označenie: ASTM F1152-93
Dátum vydania: 10.01.2002
Stránok: 3
Poznámka: Neplatné
Krajina: Americká technická norma
Kde kúpiť?
Môžete zakúpiť na eshop.normservis.skAnotácia
Keywords:notch, notch dimension, optical comparator, silicon, wafer
Populárna vydavatelia
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
