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Ungültige | Herausgegeben: 15.05.1992
ASTM F1153-92(2002) Ungültige
Standard Test Method for Characterization of Metal-Oxide-Silicon (MOS) Structures by Capacitance-Voltage Measurements (Withdrawn 2003)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Sicheres Online-PDF
ab 77.80 EUR
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Detailinformationen
Bezeichnung: ASTM F1153-92(2002)
Ausgabedatum: 15.05.1992
Seiten: 7
Anmerkung: Ungültige
Land: Amerikanische technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.deAnnotation
Keywords:capacitance-voltage, carrier concentration, fixed charge density, flatband capacitance, flatband voltage, metal-oxide-silicon structures, mobile ionic charge, MOS structures, silicon, ICS Number Code 31.060.01 (Capacitors in general)
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