Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Guide for the Radiation Testing of Semiconductor Memories (Withdrawn 1993)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Sicheres Online-PDF
Bezeichnung: ASTM F1191-88
Seiten: 7
Anmerkung: Ungültige
Land: Amerikanische technische Norm