Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Guide for the Radiation Testing of Semiconductor Memories (Withdrawn 1993)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF
Označenie: ASTM F1191-88
Stránok: 7
Poznámka: Neplatné
Krajina: Americká technická norma