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Ungültige | Herausgegeben: 01.07.2006
ASTM F1192-00(2006) Ungültige
Standard Guide for the Measurement of Single Event Phenomena (SEP) Induced by Heavy Ion Irradiation of Semiconductor Devices
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Sicheres Online-PDF
ab 86.90 EUR
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Detailinformationen
Bezeichnung: ASTM F1192-00(2006)
Ausgabedatum: 01.07.2006
Seiten: 11
Anmerkung: Ungültige
Land: Amerikanische technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.deAnnotation
Keywords:SEB, SEE, SEFI, SEGR, SEL, SEP, SEP cross section, SEU, single event, single event effect, single event phenomena, single event upset, space environment, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)
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