ASTM F1192-11 img
Ungültige | Herausgegeben: 01.10.2011

ASTM F1192-11 Ungültige

Standard Guide for the Measurement of Single Event Phenomena (SEP) Induced by Heavy Ion Irradiation of Semiconductor Devices

Verfügbare Sprachen: Englisch

Verfügbare Ausführung: Sicheres Online-PDF

ab 86.90 EUR im E-Shop anzeigen

Detailinformationen

Bezeichnung: ASTM F1192-11

Ausgabedatum: 01.10.2011

Seiten: 11

Anmerkung: Ungültige

Land: Amerikanische technische Norm

Wo ist es zu kaufen?

Erhältlich auf www.technormen.de

Annotation

Keywords:
SEB, SEE, SEFI, SEGR, SEL, SEP, SEP cross section, SEU, single event, single event effect, single event phenomena, single event upset, space environment: Destructive testing--semiconductors, Dosimetry, Electrical conductors (semiconductors), Electron radiation, Failure end point--electronic components/devices, Fluence, Galactic cosmic rays, Germanium--semiconductor applications, Integrated circuits, Ionizing radiation, Irradiance/irradiation--semiconductors, Linear energy transfer (LET)
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.