Neplatné | Vydaná: 01.10.2011

ASTM F1192-11 Neplatné

Standard Guide for the Measurement of Single Event Phenomena (SEP) Induced by Heavy Ion Irradiation of Semiconductor Devices

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF

od 86.90 EUR zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: ASTM F1192-11

Dátum vydania: 01.10.2011

Stránok: 11

Poznámka: Neplatné

Krajina: Americká technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk

Anotácia

Keywords:
SEB, SEE, SEFI, SEGR, SEL, SEP, SEP cross section, SEU, single event, single event effect, single event phenomena, single event upset, space environment: Destructive testing--semiconductors, Dosimetry, Electrical conductors (semiconductors), Electron radiation, Failure end point--electronic components/devices, Fluence, Galactic cosmic rays, Germanium--semiconductor applications, Integrated circuits, Ionizing radiation, Irradiance/irradiation--semiconductors, Linear energy transfer (LET)

Populárna vydavatelia

celý katalóg