ASTM F1192-24 img
Aktiv Normen | Herausgegeben: 01.05.2024

ASTM F1192-24

Standard Guide for the Measurement of Single Event Phenomena (SEP) Induced by Heavy Ion Irradiation of Semiconductor Devices

Verfügbare Sprachen: Englisch

Verfügbare Ausführung: Sicheres Online-PDF, Norm und Redline – Sicheres Online-PDF, Gedruckt, Gedruckt + redline

ab 70.30 EUR im E-Shop anzeigen

Detailinformationen

Bezeichnung: ASTM F1192-24

Ausgabedatum: 01.05.2024

Seiten: 12

Land: Amerikanische technische Norm

Wo ist es zu kaufen?

Erhältlich auf www.technormen.de

Annotation

Keywords:
SEB, SEE, SEFI, SEGR, SEL, SEP, SEP cross section, SEU, single event, single event effect, single event phenomena, single event upset, space environment,, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.