Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard Test Methods for Oxygen Precipitation Characterization of Silicon Wafers by Measurement of Interstitial Oxygen Reduction
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Sicheres Online-PDF
Bezeichnung: ASTM F1239-94
Ausgabedatum: 10.01.2002
Seiten: 5
Anmerkung: Ungültige
Land: Amerikanische technische Norm