Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Neplatná | Vydána: 10.01.2002
ASTM F1239-94 Neplatná
Standard Test Methods for Oxygen Precipitation Characterization of Silicon Wafers by Measurement of Interstitial Oxygen Reduction
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF
od 77.80 EUR
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: ASTM F1239-94
Datum vydání: 10.01.2002
Stran: 5
Poznámka: Neplatná
Země: Americká technická norma
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czAnotace
Keywords:delta O, interstitial oxygen, oxygen precipitation, oxygen reduction, silicon, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)
Populární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
