Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test Method for Determining the Mean Interface Trap Density of Mosfets by Charge-Pumping (Withdrawn 1997)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Sicheres Online-PDF
Bezeichnung: ASTM F1340-92
Seiten: 5
Anmerkung: Ungültige
Land: Amerikanische technische Norm