Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test Method for Determining the Mean Interface Trap Density of Mosfets by Charge-Pumping (Withdrawn 1997)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF
Označení: ASTM F1340-92
Stran: 5
Poznámka: Neplatná
Země: Americká technická norma