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Ungültige | Herausgegeben: 10.06.1997
ASTM F1390-97 Ungültige
Standard Test Method for Measuring Warp on Silicon Wafers by Automated Noncontact Scanning
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Sicheres Online-PDF
ab 77.80 EUR
im E-Shop anzeigen
Detailinformationen
Bezeichnung: ASTM F1390-97
Ausgabedatum: 10.06.1997
Seiten: 9
Anmerkung: Ungültige
Land: Amerikanische technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.deAnnotation
Keywords:noncontact measurement, semiconductor, shape, silicon, wafers, warp, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)
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