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Aktiv Normen | Herausgegeben: 31.07.2015
BS EN 62047-16:2015
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Test methods for determining residual stresses of MEMS films. Wafer curvature and cantilever beam deflection methods.
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: PDF - sofortiges Download, Gedruckt
ab 4 687.50 CZK
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Detailinformationen
Bezeichnung: BS EN 62047-16:2015
Ausgabedatum: 31.07.2015
Seiten: 18
Land: Britische technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.deAnnotation
ISBN: 978 0 580 78080 6 Status: DefinitivePopuläre Herausgeber
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