Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices. Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films.
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: PDF - sofortiges Download, Gedruckt
Bezeichnung: BS EN 62374:2007
Ausgabedatum: 31.10.2008
Seiten: 24
Land: Britische technische Norm