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Aktiv Normen | Herausgegeben: 09.09.2020
BS EN IEC 60749-41:2020
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices.
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: PDF - sofortiges Download, Gedruckt
ab 267.70 EUR
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Detailinformationen
Bezeichnung: BS EN IEC 60749-41:2020
Ausgabedatum: 09.09.2020
Seiten: 26
Land: Britische technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.deAnnotation
ISBN: 978 0 580 96287 5 Status: DefinitivePopuläre Herausgeber
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