Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktivní norma | Vydána: 09.09.2020
BS EN IEC 60749-41:2020
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 41: Standardní metody zkoušení spolehlivosti paměťových součástek nezávislých na napájení. )
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 6 512.60 CZK
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: BS EN IEC 60749-41:2020
Datum vydání: 09.09.2020
Stran: 26
Země: Britská technická norma
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czAnotace
ISBN: 978 0 580 96287 5 Status: DefinitivePopulární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
