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Aktiv Normen | Herausgegeben: 17.04.2019
BS IEC 62047-31:2019
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Four-point bending test method for interfacial adhesion energy of layered MEMS materials.
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: PDF - sofortiges Download, Gedruckt
ab 192.60 EUR
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Detailinformationen
Bezeichnung: BS IEC 62047-31:2019
Ausgabedatum: 17.04.2019
Seiten: 16
Land: Britische technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.deAnnotation
ISBN: 978 0 580 96660 6 Status: DefinitivePopuläre Herausgeber
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