BS IEC 62373-1:2020 img
Aktiv Normen | Herausgegeben: 30.03.2023

BS IEC 62373-1:2020

Semiconductor devices. Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET). Fast BTI test for MOSFET.

Verfügbare Sprachen: Englisch

Verfügbare Ausführung: PDF - sofortiges Download, Gedruckt

ab 270.00 EUR im E-Shop anzeigen

Detailinformationen

Bezeichnung: BS IEC 62373-1:2020

Ausgabedatum: 30.03.2023

Seiten: 26

Land: Britische technische Norm

Wo ist es zu kaufen?

Erhältlich auf www.technormen.de

Annotation

ISBN: 978 0 580 51373 2 Status: Definitive
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.