Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard for the common test interface pin map configuration for high-density, single-tier electronics test requirements utilizing IEEE Std 1505TM.
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: PDF - sofortiges Download, Gedruckt
Bezeichnung: BS IEC 63003:2015
Ausgabedatum: 31.01.2016
Seiten: 174
Land: Britische technische Norm