Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard for the common test interface pin map configuration for high-density, single-tier electronics test requirements utilizing IEEE Std 1505TM.
Available languages: English
Available design: PDF - Immediate download, Print design
Designation: BS IEC 63003:2015
Publication date: 31/01/2016
Pages: 174
Country: British technical standard